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比表面积测试:介孔二氧化硅载体的BET表征与孔结构分析

比表面积测试:介孔二氧化硅载体的BET表征与孔结构分析

比表面积和孔径分布是多孔材料最重要的两个结构参数——催化剂载体的比表面积直接决定了活性组分的分散度,而孔径分布影响反应物……
2026-06-16 
TEM在催化材料表征中的前沿应用

TEM在催化材料表征中的前沿应用

催化材料是化学工业、能源转换、环境治理等领域的关键材料。透射电子显微镜(TEM)凭借其原子级分辨率、丰富的成像模式和强大……
2026-06-14 
TEM表征技术在材料微观结构分析中的核心应用

TEM表征技术在材料微观结构分析中的核心应用

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscopy, TEM)作为材料微观结构分析的终极工具,凭借其原子级分辨率、丰富的成像……
2026-06-14 
TEM透射电镜检测在材料表征中的样品制备与数据分析经验

TEM透射电镜检测在材料表征中的样品制备与数据分析经验

TEM透射电镜检测在材料表征中的地位,有点像DFT计算在理论材料科学中的地位——它是能看到原子尺度信息的主流实验手段。高分辨TE……
2026-06-13 
STEM-HAADF在原子序数衬度成像中的应用

STEM-HAADF在原子序数衬度成像中的应用

La₀.₈Sr₀.₂MnO₃(LSMO)是一个经典的钙钛矿型铁磁半金属,A位掺杂20%的Sr替代La。已知Sr²⁺(离子半径1.44Å)替代La³⁺(1.36Å)会……
2026-06-09 
选区电子衍射(SAED)的标定方法——从衍射花样的相机常数标定到多相体系的物相识别

选区电子衍射(SAED)的标定方法——从衍射花样的相机常数标定到多相体系的物相识别

一个Al-4.5Cu-1.5Mg合金(2024铝合金的成分范围)经过190°C/8h时效处理后,TEM明场像显示基体内弥散分布着大量盘状析出相(直……
2026-06-09 
高分辨TEM在界面原子结构分析中的应用

高分辨TEM在界面原子结构分析中的应用

SrTiO₃(STO)薄膜(厚约20nm)通过脉冲激光沉积(PLD)生长在MgO(001)衬底上。STO的晶格常数a=3.905Å,MgO是4.212Å,晶格失配约-7……
2026-06-09 
TEM截面样品制备中离子减薄参数的系统优化:角度、能量与时间的协同调节

TEM截面样品制备中离子减薄参数的系统优化:角度、能量与时间的协同调节

TEM截面样品制备的终点不是”穿孔”,而是获得一块厚度均匀、非晶损伤可控、界面完整的薄区。离子减薄作为FIB或机械……
2026-06-06 
XRD物相检测中心:从样品处理到图谱解析的完整工作流程

XRD物相检测中心:从样品处理到图谱解析的完整工作流程

XRD物相检测是材料表征里最基础的测试之一,但”基础”和”简单”是两回事。一张衍射图谱从样品上机到最……
2026-06-04 
TEM形貌表征测试:从样品制备到高分辨成像的避坑要点

TEM形貌表征测试:从样品制备到高分辨成像的避坑要点

TEM测试中最容易被低估的环节是样品制备——不是电镜操作本身,而是样品能不能真正代表你想观察的那个结构。一台300kV的场发射透……
2026-06-04 
透射电镜EDS能谱分析:半导体异质结界面元素互扩散的纳米尺度表征

透射电镜EDS能谱分析:半导体异质结界面元素互扩散的纳米尺度表征

透射电镜EDS能谱分析案例:半导体异质结界面元素互扩散的纳米尺度表征 SEM上的EDS能谱可以告诉你”这里有什么元素”……
2026-06-02 
TEM元素分布测试:EDS、EELS、HAADF三种技术如何分工绘制纳米级元素图谱

TEM元素分布测试:EDS、EELS、HAADF三种技术如何分工绘制纳米级元素图谱

TEM元素分布测试是纳米尺度材料分析的核心能力。传统SEM-EDS在微米尺度上做元素分布没有问题,但一旦材料特征缩小到几十纳米以……
2026-05-25 
原子力显微镜形貌测定:从探针选择到数据处理完整实战

原子力显微镜形貌测定:从探针选择到数据处理完整实战

原子力显微镜形貌测定是科研计算中的核心问题之一。本文基于真实项目经验,从实验设计、参数选择到数据分析,系统梳理AFM形貌……
2026-05-13 
材料介电性能测试:从样品准备到频率响应分析的全流程经验

材料介电性能测试:从样品准备到频率响应分析的全流程经验

材料介电性能测试看似是把样品夹在电极之间跑一个扫描,实际操作中样品尺寸的测量精度、电极的制作质量、测试频率的选择逻辑,……
2026-05-11